本文標題："掃描式電子顯微鏡SEM來觀察與表面結構"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2013-6-17 22:32:34
掃描式電子顯微鏡SEM來觀察與表面結構
利用溶膠－凝膠法制備出了三氧化二錳，并使用XRD、SEM 以及FTIR
對三氧化二錳的結晶結構、顯微組織、光譜特性進行分析，
從XRD 分析中可以看出不同濃度及煅燒溫度對三氧化二錳的影響，指出三氧化二錳的結晶性會隨不同濃度
及煅燒溫度的增加而增強。在SEM 的分析中可以觀察到三氧化二錳晶粒大小約50nm，
且晶粒形貌呈球形。在FTIR 的分析中可了解三氧化二錳所含的官能基光譜特性，
而三氧化二錳所含的官能基光譜特性在光譜中波數位于500~600cm-1 之間的地方。關鍵詞：溶膠－凝膠法、三氧化二錳
采用溶膠－凝膠法，使用不同濃度比的醋酸錳及固定濃度的檸檬酸下進行反應，然后使用不同煅燒溫度生成三氧化二錳，
再以X 光繞射儀（XRD）、傅立葉紅外光分光光譜儀（FTIR）、掃描式電子顯微鏡（SEM）來觀察其性質與結構
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