本文標(biāo)題："金屬晶體結(jié)構(gòu)以及晶粒直徑測(cè)量用多功能相襯顯微鏡"
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金屬晶體結(jié)構(gòu)以及晶粒直徑測(cè)量用多功能相襯顯微鏡
晶體結(jié)構(gòu)錯(cuò)位是指晶體結(jié)溝不規(guī)則。容易發(fā)生滑移。晶體結(jié)構(gòu)
錯(cuò)位廣泛的金屬具有易滑移的特性，因而質(zhì)軟。銅、鋁和金由于晶
體結(jié)構(gòu)錯(cuò)位廣泛，都很軟。它們的密堆積結(jié)構(gòu)與無(wú)電子鍵，使原子
比較容易彼此滑過(guò)。中斷錯(cuò)位能提高硬度。例如，制合金引入外來(lái)
原子，形成的群體能產(chǎn)生晶體結(jié)構(gòu)錯(cuò)位抗力。用這種合金方法難以
煉制出硬鋁。由于晶體絡(luò)構(gòu)錯(cuò)位積聚于晶界，錯(cuò)位晶粒的粒度下降
也會(huì)提高金屬的硬度。金屬獲得繼續(xù)滑移抗力的加工硬化處理(見(jiàn)
下述)，可通過(guò)制造新的晶體結(jié)構(gòu)錯(cuò)位來(lái)進(jìn)行。當(dāng)有足量的晶體結(jié)
構(gòu)錯(cuò)位時(shí)，它們就會(huì)沿著交會(huì)滑移平面運(yùn)動(dòng)，從而阻礙彼此的活
動(dòng)，防止繼續(xù)滑移.
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