本文標(biāo)題："礦物測量光學(xué)顯微鏡,晶體微觀分析儀器"

礦物測量光學(xué)顯微鏡,晶體微觀分析儀器

滑移片可以任意滑動，則是晶體外形發(fā)生旋轉(zhuǎn)，
而滑移面和滑移向不變，滑移后，晶體只有形態(tài)的改變
而無光性方位的改變;若兩端被固定，晶體不旋轉(zhuǎn)，

其滑移面和滑移系卻發(fā)生了轉(zhuǎn)動，這樣變形后的礦物集合體
不僅形成了形態(tài)優(yōu)選方位，也形成了光性的優(yōu)選方位。

在光學(xué)顯微鏡下，單個晶體滑移后晶格的方位并不變，
不能產(chǎn)生可見的效應(yīng)，只有在某些特殊情況下，
才可以看到滑移線或其他異常條紋，如沿滑移線吸附、充填有雜質(zhì)等。

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